EMC测试中的电流注入技术
万方数据知识服务平台
应用市场
我的应用
会员HOT
万方期刊
×

点击收藏,不怕下次找不到~

@万方数据
会员HOT

期刊专题

10.3969/j.issn.1005-9776.2003.04.006

EMC测试中的电流注入技术

引用
文章综述了在系统电磁兼容性(EMC)测试中替代直接辐照的电流注入技术的最新研究成果.电流注入技术主要有两种:大电流注入(BCI)和直接电流注入(DCI).BCI技术主要用于辐射敏感度测试,尤其是测试电缆束对射频耦合的敏感度.DCI技术是一种用在高场强辐射场(HIRF)下系统级EMC安全裕度测试的新技术,研究的热点是其相对自由场辐照的有效性及等效关系.

EMC测试、高场强辐射场(HIRF)、大电流注入(BCI)、直接电流注入(DCI)

TM92

2004-07-31(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

19-22

相关文献
评论
暂无封面信息
查看本期封面目录

安全与电磁兼容

1005-9776

11-3452/TM

2003,(4)

相关作者
相关机构

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn