热电动势对测量绕组温升的影响及消除方法

摘要：

@@ 在电器产品安全测试中常常需要测试绕组温升.绕组温升测量一般都采用直流铜阻法.而直流铜阻的测量值经常由于热电动势的影响而偏离实际值.电阻越小偏离越大.本文主要分析热电动势产生的原因及克服热电动势影响的测量方法.

关键词：绕组、温升、热电动势

分类号：TH8;TQ6

在线出版日期：2004-07-31（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：37,49