信息技术设备发热试验浅谈

摘要：

本文论述了信息技术设备正常工作时,影响设备及其零部件温度或温升的有关因素,以及如何准确完成发热试验.

关键词：发热试验、正常负载、温度或温升

分类号：TN0;TN

在线出版日期：2004-07-31（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：34-36