新生儿低血糖脑损伤临床与磁共振特征

摘要：

目的：探讨新生儿低血糖脑损伤的临床、头颅磁共振（ MRI ）的特征。方法选择新生儿低血糖脑损伤的病例42例（脑损伤组）及同期住院的新生儿低血糖无脑损伤的病例45例（无脑损伤组），对两组患儿的临床资料进行回顾性分析。结果脑损伤组平均最低血糖值明显低于无脑损伤组（P＜0．01），低血糖持续时间明显长于无脑损伤组（P＜0．01），脑损伤组治疗24 h后血糖恢复正常者明显低于无脑损伤组（P＜0．01）。脑损伤组头颅MRI早期表现为受损部位的弥散加权成像技术（DWI）高信号42例（100％），脑损伤的部位多分布在顶枕叶38例（90．5％）。脑损伤组30例患儿进行6～18个月随访，发生低血糖脑损伤神经系统后遗症20例（66．7％）；无脑损伤组无神经系统后遗症。结论新生儿血糖值越低，低血糖持续时间越久，脑损伤越重，低血糖脑损伤预后差，神经系统后遗症发生率高。

关键词：脑损伤、低血糖、磁共振、预后、新生儿

分类号：R722.1;R445.2;R512.5

在线出版日期：2014-09-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：1055-1057