不同基准下的公差分析与研究

摘要：

以磁体馈线系统线圈终端盒外壳体为例,基于公差分析软件CETOL6σ建立零件尺寸链,对其模型进行分析.在产品设计阶段研究不同基准下尺寸公差分析,通过对建立的模型尺寸链进行分析,然后从分析结果中得出尺寸链中重要尺寸,保证重要尺寸及公差以保证产品质量.该方法为提高产品加工质量提供一定的指导,并且缩短了产品周期.

关键词：公差分析、基准、尺寸链、CETOL6σ

分类号：TH-39

在线出版日期：2013-04-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：332-335