数字集成电路测试技术的探究

摘要：

数字集成电路系统测试技术的应用是基于对测量对象的各种数据信息进行分析,从而找出问题、解决问题,以达到检测和排除故障、提高电路芯片可靠性的目的.由于电路芯片在使用过程中不断地受到外部环境因素影响而导致其性能发生改变,因此通过测试来发现并及时解决这些变化所带来问题显得尤为重要.在现代科技发展中,随着越来越多新产品的问世,传统的测试技术已经达不到产品检测的高度准确性,并且其功能单一,耗时久、成本高,这就迫切需要在短时间内研究出应对的方法,同步更新出适用于不同领域的测试仪器,解决传统技术带来的弊端.本文探究数字集

关键词：集成电路、测试技术、技术研究

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2023-07-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：163-165