基于量子点薄膜的机房温度测量技术

摘要：

量子点是一种新型半导体纳米材料,具有受激后可发射荧光等优良的化学和物理特性.根据量子点材料光致发光光谱的温变移动效应,可以依据其光学参数随温度变化规律实现温度测量.针对机房计算机机群温度测量的需求,提出基于量子点薄膜的机房温度测量技术.仿真模拟结果表明,在机柜表面处布置量子点试片进行温度测量最为合适.设计的测温试片的结构从下而上依次是玻璃基层、量子点膜层和遮光层,其中量子点膜层实现了对温度的测量.通过实验发现量子点荧光峰值强度会随着温度升高而减小,温度与该光强之间存在较好的线性相关性,说明利用量子点薄膜进行机房温度的测量具有可行性.利用量子点薄膜测温还具有布置简单和可集中监测多点温度的优势.

关键词：温度测量、量子点、机房温度、试片制作

分类号：TB383;TP308(工程材料学)

在线出版日期：2021-12-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：79-81